干擾將會(huì)降低局部放電試驗(yàn)的檢測(cè)靈敏度
,試驗(yàn)時(shí),應(yīng)使干擾水平抑制到最低水平。干擾類型通常有:電源干擾、接地系統(tǒng)干擾、電磁輻射干擾、試驗(yàn)設(shè)備各元件的放電干擾及各類接觸干擾。這些干擾及其進(jìn)入試驗(yàn)回路的途徑。
a.電源干擾
b.接地干擾
c.電磁輻射干擾
d.懸浮電位放電干擾。鄰近試驗(yàn)回路的不接地金屬物產(chǎn)生的感應(yīng)懸浮電位放電
e.電暈放電和各連接處接觸放電的干擾。電暈放電產(chǎn)生于試驗(yàn)回路處于高電位的導(dǎo)電部分
f.試驗(yàn)變壓器和耦合電容器內(nèi)部放電干擾